誤碼測(cè)試儀

產(chǎn)品綜述

XRS-AV5233D誤碼測(cè)試儀主要用于數(shù)字光收發(fā)模塊的誤碼性能測(cè)試。采用可更換接口板，可支持多種數(shù)字光收發(fā)模塊，包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。5233D誤碼測(cè)試儀采用標(biāo)準(zhǔn)2U機(jī)架式結(jié)構(gòu)，支持RS232和以太網(wǎng)遠(yuǎn)程控制，具有比特誤碼測(cè)試、誤碼率眼圖、電壓拉偏、預(yù)加重控制、幅度控制、溫度與功耗監(jiān)測(cè)及DDM監(jiān)視功能。端口速率覆蓋100Mbps～400Gbps，適合于各種數(shù)字光收發(fā)模塊的研制和測(cè)試。

功能特點(diǎn)

• 支持SFP28、QSFP28等15種數(shù)字光收發(fā)模塊

•  一臺(tái)機(jī)箱可配置1～4個(gè)測(cè)試模塊，每個(gè)模塊支持2、4或8個(gè)端口

• 支持100G OTN、40GE、100GE二層協(xié)議

• 自動(dòng)識(shí)別載板和光模塊種類并進(jìn)行控制

• 按端口和通道進(jìn)行誤碼測(cè)試

• 為光模塊提供電源，并可以進(jìn)行電壓拉偏控制

• 光模塊工作電壓、電流與功耗測(cè)試

• 具有DDM監(jiān)視功能，通過I2C或MDIO接口對(duì)光模塊進(jìn)行控制和狀態(tài)讀取

• 具有眼圖掃描功能

• 光模塊工作環(huán)境溫度監(jiān)測(cè)

• 命令式遠(yuǎn)程控制，適合定制自動(dòng)化測(cè)試

比特誤碼測(cè)試與眼圖分析

支持比特誤碼和眼圖分析功能，支持27-1、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1、231-1等PRBS圖形；支持非幀與成幀兩種數(shù)據(jù)類型。

比特誤碼測(cè)試

眼圖分析

光模塊控制及系統(tǒng)信息

可對(duì)載板中插入的光模塊單獨(dú)操作，包括上電、掉電、發(fā)光、復(fù)位等，可顯示系統(tǒng)信息及光模塊類型。

光模塊控制

光模塊信息查看

具有全面的信息查詢功能，支持告警信息、光模塊寄存器信息、DDM監(jiān)控信息查看。

告警信息

寄存器信息

DDM監(jiān)控信息

典型應(yīng)用

5233D誤碼測(cè)試儀主要用于數(shù)字光收發(fā)模塊的誤碼性能測(cè)試，光模塊插入對(duì)應(yīng)的接口板上，可支持多種數(shù)字光收發(fā)模塊，包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。